測試要求
各種測試波璃瓶內載荷的儀器設備為,應滿足下述的技術規定:在施用偏光元器件呵保護性件去觀測時,光場邊沿的透明度不低于120cd/m2;所按照的偏振元器件應衡量亮場曾任何半點偏振度也不低于99%;偏振場不低于85mm;在起偏鏡和檢偏鏡兩者之間能分離放入565nm的全波片(精準色片)及四分之四波片,波片的慢軸與起偏鏡的偏振立體圖成90°;檢偏鏡應系統設計成能較為于起偏鏡和全波片或四分之四波片三維縮放,或者有三維縮放視場角的在測量系統設計(度盤格數值1°)。測試方法
樣品底部的檢驗:將四分之一波片置入視場,調整偏光應力儀零點,使之呈暗視場。把供試品放入視場,從口部觀察底部,這時視場中會出現暗十字,如果供試品應力小,則這個暗十字便會模糊不清。旋轉檢偏鏡,使暗十字分離成兩個沿相反方向移動的圓弧,隨著暗區的外移,在圓弧的凹側便出現藍灰色,凸側便出現褐色。如測定某選定點的應力值,則旋轉檢偏鏡直至該點藍灰色剛好被褐色取代為止。繞軸線旋轉供試品,找出大應力點,旋轉檢偏鏡,直至藍灰色被褐色取代,記錄此時的檢偏鏡旋轉角度,并測量該點的厚度。
樣品(pin)側(ce)壁(bi)的(de)(de)檢(jian)(jian)驗(yan):將(jiang)四分之(zhi)一波片置入(ru)(ru)視場,調整偏光(guang)應(ying)(ying)力(li)儀零(ling)點,使(shi)之(zhi)呈暗視場。把(ba)供(gong)試品(pin)放入(ru)(ru)視場中,使(shi)供(gong)試品(pin)的(de)(de)軸線(xian)與(yu)偏振平(ping)面(mian)成45°,這(zhe)時側(ce)壁(bi)上出現亮暗不同的(de)(de)區(qu)(qu)域。旋轉檢(jian)(jian)偏鏡直至(zhi)側(ce)壁(bi)上暗區(qu)(qu)聚會,剛(gang)好*取代亮區(qu)(qu)為止。繞軸線(xian)旋轉供(gong)試品(pin),借以確定大應(ying)(ying)力(li)區(qu)(qu)。記(ji)錄測(ce)得大應(ying)(ying)力(li)區(qu)(qu)的(de)(de)檢(jian)(jian)偏鏡放置角度(du),并分別測(ce)量兩(liang)(liang)側(ce)壁(bi)的(de)(de)厚(hou)度(du)(記(ji)錄兩(liang)(liang)側(ce)壁(bi)壁(bi)厚(hou)之(zhi)和)。
結果計算
δ=T/t=θx3.14/t
式中 δ為供試品的內應力,nm/mm;
T為供試品被測部位的光程差,nm;
t為供試品被測部位通光處的總厚度,mm;
θ為檢偏鏡旋轉角度(在測得大應力時);
3.14為采用(yong)白(bai)光(guang)光(guang)源(有(you)效(xiao)波長約(yue)為565nm)時(shi)的常數,檢偏(pian)鏡每旋轉1°約(yue)相當(dang)于光(guang)程(cheng)差3.14nm(T=θx3.14)。
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